Sparsity as a Key: Unlocking New Insights from Latent Structures for Out-of-Distribution Detection
稀疏性作为关键:从潜在结构中解锁新的见解用于分布外检测
机构 * School of Integrated Technology, BK21 Graduate Program in Intelligent Semiconductor Technology(整合技术学院,智能半导体技术BK21研究生项目)
专题命中 评测与基准 :large language model(abstract);language model(abstract)
AI总结 本文首次将稀疏自编码器应用于ViT的[CLS]令牌进行分布外检测,通过Top-k SAE解构密集特征,揭示了分布内数据的类激活模式,并提出基于核心能量剖面差异的评分函数,实现了在多个基准上的强性能。
Comments 8 pages, 6 figures, supplementary material included, CVPR 2026