LAUDE: LLM-Assisted Unit Test Generation and Debugging of Hardware DEsigns
LAUDE: 基于LLM的硬件设计单元测试生成与调试
机构 * Dept. of Electrical and Computer Engineering, University of Illinois Chicago(伊利诺伊大学芝加哥分校电子与计算机工程系) ; Microsoft(微软公司)
专题命中 测试生成 :unit test generation(title,abstract);分类 cs.SE、cs.AI
AI总结 LAUDE利用大语言模型能力,实现硬件设计的单元测试生成与调试,有效检测和修复设计中的错误。
Comments 11 Pages, 9 Figures, 9 Tables Submitted to AAAI 2027