Micro-Defects Expose Macro-Fakes: Detecting AI-Generated Images via Local Distributional Shifts
微缺陷暴露宏观伪造:通过局部分布偏移检测AI生成图像
机构 * Rutgers University(罗格斯大学) ; The University of Texas at Austin(德克萨斯大学奥斯汀分校) ; Meta AI ; Advanced Micro Devices(先进微器件公司)
AI总结 本文提出MDMF框架,通过放大微小统计异常为宏观分布偏移,利用局部分布偏移检测AI生成图像,实验表明其在多个基准上表现优异。
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